Transformando o Futuro: Inovação, aprendizado de máquina e IA

Inovação é parte essencial do nosso DNA.

Investimos continuamente em P&D, incorporando novas habilidades técnicas em mecânica, automação e ciência de dados, incluindo técnicas de Machine Learning (ML) e Inteligência Artificial (AI)

Nossas soluções visam proporcionar uma experiência amigável aos usuários, impulsionando a produtividade e a tomada de decisões com base em informações confiáveis.

                   A tecnologia JENTEK®

Existem várias diferenças significativas entre a tecnologia JENTEK® e outras metodologias que utilizam campo magnético ou correntes parasitas.

Os produtos JENTEK® empregam a tecnologia patenteada de correntes parasitas não convencionais, MWM-Array®, projetada de maneira única para facilitar a modelagem físico-matemática e obter resultados com performance superior.

Os dados adquiridos são processados por software próprio, GridStation®, aprimorado ao longo de mais de 30 anos de experiências em inspeções.

Através da linha de produtos comerciais, ou através de P&D, o sistema é definido para atender às necessidades específicas de cada aplicação, viabilizando uma inspeção personalizada e eficaz.

Nossos sensores são ferramentas valiosas também para avaliação e controle de qualidade em processos de alto valor agregado, com potencial para monitoramento em tempo real. 

Conheça a força do MWM-Array®

Análise de dados baseada em modelo físico e sem Crosstalk: O drive e os elementos sensores são projetados para eliminar comportamentos difíceis de modelar. Os elementos sensores fornecem respostas independentes e sem interferência cruzada.

Aquisição de dados totalmente paralela e sem multiplexação: O campo magnético é uniforme em todo o conjunto, permitindo medição simultânea em cada elemento sensor.

Escaneamento rápido em baixas frequências: Ao adquirir dados de todos os elementos sensoriais simultaneamente a resolução da imagem é aprimorada e torna-se viável realizar varreduras mais rápidas, inclusive em baixas frequências.

Imagem de alta resolução e profundidade de penetração ao mesmo tempo: A relação geométrica projetada entre o drive e os elementos sensores permite diferentes profundidades de penetração, mantendo alta resolução da imagem mesmo em penetrações profundas. Isso possibilita a identificação mais assertiva de falhas subsuperficiais

Compensação do Liftoff: Os Métodos Inversos baseados em modelos físico-matemáticos superam as limitações das variações de liftoff causadas por irregularidades ou rugosidades superficiais, colaborando para inspeções confiáveis em superfícies desafiadoras

Ensaios Não Destrutivos

Ensaios não destrutivos (END) desempenham um papel crucial para diversas indústrias, possibilitando a avaliação de materiais e ativos sem comprometer sua integridade. Essa abordagem oferece uma maneira segura e eficaz de inspecionar, testar e diagnosticar problemas, garantindo a qualidade e confiabilidade dos produtos. Com os ensaios não destrutivos, é possível identificar defeitos, desgastes e anomalias de forma precisa, contribuindo para a manutenção preventiva, a segurança operacional e a redução de custos a longo prazo. Investir nessa prática significa garantir a excelência e a durabilidade dos produtos, bem como atender aos mais altos padrões de qualidade e segurança.

END com Correntes Parasitas

Durante e após a Segunda Guerra Mundial, o uso de correntes parasitas se expandiu significativamente com a crescente demanda por inspeções rápidas e confiáveis em peças críticas na indústria aeroespacial e no setor de defesa; benefícios que fizeram ganhar espaço em setores da indústria de óleo e gás, automotiva e manufatura por volta dos anos 80. Com a introdução de sistemas digitais e sensores multielemento, como o MWM-Array®, a tecnologia avançou significativamente. Esses sistemas possibilitam inspeção de áreas maiores com maior resolução e  rapidez. A tecnologia MWM-Array também pode ser utilizada em compósitos com fibra de carbono, expandindo ainda mais seu escopo.

Avaliação de clientes

Descubra o que os clientes pensam sobre os produtos JENTEK.

O MWM-Array® proporciona margens de segurança aprimoradas para aeronaves operacionais ao identificar trincas em lâminas e discos de motor que, de outra forma, não teriam sido detectadas. Além disso, conquistamos níveis melhorados de “aeronaves prontas para a tarefa” e custos de inspeção reduzidos. Soluções com sensores permanentes para identificação de trincas e monitoramento de fadiga podem melhorar a prontidão e reduzir os custos de manutenção para frotas específicas do comando de sistemas aéreos navais.

NAVAIR, 2013.

A LTI está fornecendo engenharia de END, através de inspeções com Shearografia, Ultrassom e Correntes Parasitas em infraestrutura crítica para o retorno da América à Lua. Agradecemos aos nossos parceiros, incluindo a JENTEK® Sensors, pelo seu apoio excepcional.

Laser Technology Inc. (LTI), 2024.

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